Испытания и контроль качества ЭКБ

C 31 октября по 2 ноября 2017 года  в Москве в ЦВК «Экспоцентр» в Павильоне Форум в рамках юбилейной 15-й Международной выставки по электронике, компонентам, оборудованию и технологиям «ChipEXPO - 2017» формируется  тематическая экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ».
 
Создание такой  экспозиции  инициировал  Департамент радиоэлектронной промышленности Минпромторга России.  Идею активно поддержали многие предприятия отрасли, - лидеры по данной тематике.
 
В состав Оргкомитета выставки, в части курирования этого направления, вошли директор ФГУП «МНИИРИП» Алексеев Виктор Валентинович и директор Института экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ» Телец Виталий Арсеньевич.
 
Причины создания экспозиции обусловлены:

1.Возрастающими требованиями к качеству поставляемой из-за рубежа, производимой в РФ и используемой на предприятиях радиоэлектроники РФ электронной компонентной базы.
2. Наличием требований по проведению испытаний ЭКБ на стойкость к внешним механическим, климатическим и радиационным дестабилизирующим факторам.
3.Продвижением продукции российских предприятий электронного машиностроения, предназначенной для проведения контроля и испытания ЭКБ и разработанной по программам импортозамещения.
 
Впервые экспозиция «Испытания и контроль качества ЭКБ» была представлена на выставке в апреле 2016 года, где  были представлены испытательные центры, лаборатории контроля качества и сертификации и поставщики контрольно-измерительного оборудования и приборов.
 
Площадь экспозиции составила более 400 кв.м. и вызвала большой интерес у участников и посетителей. Об этом свидетельствуют десятки договоренностей о намерениях и профессиональные контакты , установленные во время работы экспозиции.
 
Все участники экспозиции приняли участие в Конкурсе «Золотой Чип» в номинации «За достижения в испытании и контроле качества электронной компонентной базы». Члены жюри Конкурса «Золотой Чип» по достоинству оценили успехи участников экспозиции и, несмотря на жесткие критерии отбора на Конкурс «Золотой Чип», было введено 2 дополнительных первых места.
 
Тема «Испытания и контроль качества ЭКБ» заняла достойное место и в деловой программе выставки. Отдельно хочется отметить круглые столы: «Методические подходы к формированию системы требований по организации  контроля качества ИМС в условиях изготовления кристаллов в базовых   технологических процессах отечественных кремниевых фабрик» и «Испытания и контроль качества ЭКБ», собравшие около 200 участников, в том числе, первых лиц крупнейших компаний отрасли, представителей ведущих СМИ.
 
Экспозиция способствовала консолидации усилий производителей и потребителей ЭКБ в целях повышения надежности высокотехнологичной продукции военного назначения, а также используемой в космической технике, в системах контроля и управления для атомной промышленности.
           

Приглашаем испытательные центры, лаборатории контроля качества и сертификации, разработчиков и производителей ЭКБ, разработчиков и поставщиков контрольно-измерительного оборудования принять участие в экспозиции "Испытания и контроль качества ЭКБ" на выставке «ChipEXPO - 2017» (31 октября - 2 ноября 2017 года, ЦВК «Экспоцентр», Павильон Форум).
 
Заявку на участие в экспозиции Испытания и контроль качества ЭКБ можно заполнить в разделе "Заявка на участие".
 
Куратор проекта Пичугина Е.А. ep@chipexpo.ru